随着物位仪表在各行业的广泛应用，物位仪表在测量过程中也遇到很多影响因素，今天来总结分享一下有哪些影响因素。
1、对于过溢掩护，可定义一个相应距离值即盲区。
2、测量范围与天线有关，不同规格天线精度有所不同。
3、测量范围从波束涉及罐低的那一点开始算起，但在特别状况下，若罐低为凹型或锥形，当液位低于此点时将无法进行测量。
4、如果介质介电常数较小时，当处于低液位时，罐底可见，为保障测量精度，倡议将零点调整。
5、随浓度不同，泡沫既能够吸收微波，又能够将其反射，但在正常条件下是能够进行测量的。
6、理论上测量到达天线尖端是能够实现的，考虑到侵蚀及粘附的影响，测量规模的终值应与天线的尖端至少间隔100mm。