雷达物位计已成为市场上的主流产品，主要分为脉冲雷达物位计和导波雷达物位计。低频脉冲雷达物位计尽管具有价格相对低廉的优点，但在主要应用领域中，属于逐渐被淘汰的产品。与低频脉冲雷达物位计相比，高频脉冲雷达物位计在应用过程中有以下优点：1．高频雷达物位计（主要指26GHz和24GHz）具有能量高，波束角小，天线尺寸小，精度高等点。2. 26GHz雷达波长11mm，6GHz雷达波长50mm，雷达物位计在测量散装料位时，雷达波反射主要来自料面的漫反射，漫反射的强度与物料大小成正比，与波长成反比，而大部份散装料直径远远小于50mm，这就是26GHz雷达是测量散装料物位最佳选择的原因。3．在一些直径小而高度并不是很高的小型罐的应用中，6GHz雷达天线长（300-400mm）无形中增大了盲区（大约600mm），另外由于6GHz雷达方向性差（开角大）在小罐中会产生多径反射；而26GHz雷达频率高，天线短，方向性好，克服了6GHz雷达的缺点，适用于小罐测量。4．由于现场环境恶劣，随着时间推移，雷达天线会堆积污物、水汽等，26GHz雷达天线小，附加天线罩可大大改善因污物、水汽造成的影响；6GHz雷达天线大，加天线罩很困难。且仪表较沉重，清理困难。5．由于26GHz雷达方向性好，很多恶劣工况，可通过简单隔离，将雷达物位计装在容器外进行测量。冶金行业的工况相当复杂，各个工序的对于物位测量的要求均不相同：同时...
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射频导纳测量原理射频导纳是一种从电容式发展起来的、防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的新型物位控制技术，是电容式物位技术的升级。所谓射频导纳，导纳的含义为电学中阻抗的倒数，它由电阻性成分、电容性成分、感性成分综合而成，而射频即高频无线电波谱，所以射频导纳可以理解为用高频无线电波测量导纳。仪表工作时，仪表的传感器与灌壁及被测介质形成导纳值，物位变化时，导纳值相应变化，电路单元将测量导纳值转换成物位信号输出，实现物位测量。对于连续测量，射频导纳技术与传统电容技术的区别除了上述讲过的以外，还增加了两个很重要的电路，这是根据导电挂料实践中的一个很重要的发现改进而成的。上述技术在这时同样解决了连接电缆问题，也解决了垂直安装的传感器根部挂料问题。锁增加的两个电路是振荡器缓冲器和交流变换斩波器驱动器。对一个强导电性被测介质的容器，由于被测介质是导电的，接地点可以被认为在探头绝缘层的表面，对变送器来说仅表现为一个纯电容。随着容器排料，探杆上产生挂料，而挂料是具有阻抗的。这样以前的纯电容现在变成了由电容和电阻组成的复阻抗，从而引起两个问题：第一个问题是液位本身对探头相当于一个电容，它不消耗变送器的能量，（纯电容不耗能）。但挂料对探头等效电路中含有电阻，则挂料的阻抗会消耗能量，从而将振荡器电压拉下来，导致桥路输出改变，产生测量误差。我们在振荡器与电桥之间增加了一个缓冲放大器，使消耗的能量得到补充，因而...
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超声波物位计安装于容器上部在电子单元的控制下，探头向被测物体发射一束超声波脉冲。声波被物体表面反射，部分反射回波由探头接收并转换为电信号。从超声波发射到被重新被接收，其时间与探头至被测物体的距离成正比。电子单元检测该时间，并根据已知的声速计算出被测距离。通过减法运算就可得出物位值。由于温度对声速具有影响，所以仪表应测量温度，以修正声速。超声波物位计安装基本要求 换能器发射超声波脉冲时，都有一定的发射角。从换能器下缘到被测介质表面之间，由发射的微波波束所辐射的区域内，不得有障碍物。因此安装时应尽可能避开罐内设施，如：人梯、限位开关、加热设备、支架等。必要时，须进行“虚假回波学习”。 另外须注意超声波波束不得与加料料流相交。 安装仪表时还要注意：高料位不得进入测量盲区： 仪表距罐壁必须保持一定的距离；仪表的安装尽可能使换能器的发射方向与被测介质表面垂直。 安装在防爆区域内仪表必须遵守国家防爆危险区的安装规定。 防爆型仪表的外壳采用压铸铝。防爆型仪表可安装在有防爆要求的场合，仪表必须接大地。安装超声波液位计时必须考虑超声波液位计的盲区问题。当液位进入盲区后，超声波变送器就无法测量液位了，所以在确定超声波液位计的量程时，必须留出50公分的余量，安装时，变送器探头必须高出高液位50公分左右。这样才能保证对液位的准确监测及保证超声波液位计的安全。 在实际使用中，因为安装时考虑不周...
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外测液位计“偏差XP”的主要原因：A 校准问题1）无条件安装低位校准，高位校准条件不具备；处理方法：进料超过可校准高度或参照比对液位修改6#用户参数。2）校准不成功，仪表不校准； 处理方法：使液位超过可校准高的，检查6#用户参数是否有效范围变化，如无变化，说明仪表校准有问题，通知厂家客服。3）校准信号不好。处理方法：重新安装校准探头。4）比对液位不准确。处理方法：确认比对液位零点和外测液位计一致，如不一致，调整用户5#参数。B、显示翻倍液位，尤其是空罐进料和低液位时翻倍严重，并且仪表有时不自动复位；处理方法：液位超过仪表盲区，给仪表进行强制复位。C 、球罐偏差普遍；处理方法：进液，使液位高过校准高度，实现自动校准。D 、进、出料冲击，有时液位跳变或不变。处理方法：重新找探头安装位置，远离进、出料口。注意事项雷达液位计虽然安装调试简单，但仍会遇到一些错误的安装方式，下面总结了一些常见的我们经常遇到的一些的典错误安装方式，帮助大家在调试安装雷达，更加得心应手。1.离进料口近经常遇到刚接触雷达的朋友，在安装的过程中，把雷达的安装位置距离进料口太近，导致使用过程中测量的液位不准确。由于离进料口近，进料会极大干扰雷达介质传播与反射，所以我们在安装的时候，要尽量远离进料口2.圆形罐体装在正中间雷达液位计是非接触式的液位计，由于存在波束角所以在安装的时候要尽量远离管壁，但是遇到需要安装...
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雷达物位计主要是通过发射和接受无线电波来实现对目标的探测，现代雷达物位计可以同时探测目标的距离、方位、高度、速度、形状和目标类型等等。它依靠其独特的技术优势已经成为各类物位测量仪表中的首选。下面简单介绍一下如何正确选择雷达物位计量程。 通常所说的雷达物位计量程指的是仪表的测距范围，一般在产品技术手册中以测量范围这一个指标或以盲区指标和量程指标这两项来注明。其中盲区指的是仪表能检测到的目标料面与仪表之间的最小距离，量程指仪表能检测到的目标料面与仪表之间的最大距离。想要使雷达物位计在实际应用中取得良好的使用效果，合理选型是其中的关键因素。其选型涉及的方面很多，如何选型在各种雷达物位计选型手册上也有详细的说明。在众多选型参数中有一个参数对料位检测效果起着至关重要的作用，但由于理论性较强，在实践中对该参数的介绍并不详尽，因此造成很多用户对其代表的重要意义了解不足，往往忽视了该项参数的重要性。盲区代表的含义是一旦料位进入测量的盲区范围内，仪表会进入不确定的测量状态，输出的是一个随机的测量值，可能给出完全错误的检测结果，因此在使用中须确保料位不会进入仪表盲区内。量程代表的是该仪表在理想的标准工况下最大的可测范围，而仪表在现场使用中最大的实际可测距离还需依据具体工况而定，有可能会远远低于标称的量程指标。
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雷达物位计是一种非常常见的物位测量工具，在选型时，一定要知道一些常见的参数。选型参数：1、测量范围是几米，要求盲区是多少。从工艺员那里获取实际物位的高值，然后根据实际物位参数来选择天线尺寸。因为天线尺寸及类型不同，其量程宽度也有所不同。雷达物位计的天线有杆式的、喇叭口式的、抛物面式三种类型。第一种类型的抗干扰能力弱，量程小。第二种类型的抗干扰能力比第一种强些，喇叭口越大，能量越集中且量程也越大，比较适用于复杂环境工作。第三种类型的抗干扰能力非常好，量程非常大。是以，选用时根据现场的物位具体参数及工作环境，选择适用于生产的雷达物位计即可。2、考虑雷达物位计的测量精度。普通型雷达物位计的精密度低于精密型雷达物位计，到底用普通型还是精密型雷达物位计，则根据实际工艺要求，否则造成不必要浪费。3、被测量的介质类型(液体还是固体，具体的名称如：清水、污水、泥浆、汽油、柴油、甲苯、二氧化硫、矿石、煤炭、水泥、黄豆、小麦、玉米、面粉等)。如果是液体：液面是否有蒸汽、雾气、泡沫、波浪、搅拌、漂浮物;如果是固体：是否有粉尘，介质是颗粒状还是粉末状。4.、介质的低\高温度，小\大压力。5.介质的腐蚀性，如果是放在罐子内的，需要知道罐子的材质，有没有防腐的衬里。6.是否需要防腐、防爆，要分体式还是一体式。7.工作环境：敞口的池子、有盖板的池子、卧罐、立罐、球罐，罐子是否通大气压等。8.工作电源：是直流24...
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概述料位是工业生产中的一个重要参数。料位测量的方法很多，针对不同的工况和介质可以使用不同测量原理的料位计，吹气法、静压式、浮球式、重锤式、超声波等几种常用的料位测量仪表，都有各自的特点和应用范围。雷达料位计运用先进的雷达测量技术，以其优良的性能，尤其是在槽罐中有搅拌、温度高、蒸汽大、介质腐蚀性强、易结疤等恶劣的测量条件下，显示出其卓越的性能，在工业生产中发挥着越来越重要的作用。原理及技术性能雷达波是一种特殊形式的电磁波，雷达料位计利用了电磁波的特殊性能来进行料位检测。电磁波的物理特性与可见光相似，传播速度相当于光速。其频率为300MHz-3000GHz。电磁波可以穿透空间蒸汽、粉尘等干扰源，遇到障碍物易于被反射，被测介质导电性越好或介电常数越大，回波信号的反射效果越好。 雷达波的频率越高，发射角越小，单位面积上能量（磁通量或场强）越大，波的衰减越小，雷达料位计的测量效果越好。1、雷达料位计的基本原理雷达式料位计组成：它主要由发射和接收装置、信号处理器、天线、操作面板、显示、故障报警等几部分组成。 发射－反射－接收是雷达式料位计工作的基本原理。雷达传感器的天线以波束的形式发射最小5.8GHz的雷达信号。反射回来的信号仍由天线接收，雷达脉冲信号从发射到接收的运行时间与传感器到介质表面的距离以及物位成比例。 即：h= H–vt/2 式中 h为...
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