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2019 - 08 - 15
在实际工况中,雷达液位计是非接触的测量,一般来说,非接触式的测量还是有不少优势的,但是在一些特殊的工况中,非接触式的测量却又带来了一些问题,发射的微波波束在传播的过程中其区域内有障碍物,如人梯、加热设备、支架、限位开关等,这些设施都会影响微波的传播,进而影响雷达物位计的测量。雷达液位计的测量是通过微波来测量的,微波如果在传播个过程中遇到了障碍物,就会反射。正常情况下,微波在测量环境相对较简单的情况下,通过示波器来看,很明显的就能测量出物料的位置。但是,在一些相对较复杂的测量环境下,微波在传播的过程中碰到的障碍物就不仅仅是物料了,这样的话,就会产生几个回波,最终导致无法精确的确定物料的位置。针对上述情况,这时候我们就需要通过一些特殊的途径来解决这一问题。可选择安装导波管或者旁通道就能够很好的解决这方面的问题                             通过导波管或者旁通道,我们就可以有效的避免一些干扰测量的障碍物的影响。当然,这也只适用于某些特定的实际工况中,因为只有流动性比较好的介质才能使得导波管或者旁通管与主体被测容器的处在同一水平线,粘稠的介质是不适用的。同时还值得注意的是,导波管或者旁通道的内壁也要求光滑,这才能保证...
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2019 - 11 - 11
随着物位计的使用范围越来越广,例如雷达物位计在带有腐蚀性污染的环境下,依然可以准确的测量。但是实际使用过程中,也会因为各种各样的内外因素,造成测量出现误差,从而影响最终的结果。当故障发生后,及时采取相应的处理方法是正确的做法,下面介绍常见的故障及其紧急处理措施。  1、天线结疤  雷达物位计出现这类情况的原因其一是因为和高介电常数材料介电常数小的材料使用,会影响测量结果,而在干燥状态下的测量没有影响。用户可以采取的措施是:碱性洗涤,即用酸性清洗液结疤,但不能在水平测量过程中进行清洗;用压缩空气吹扫,降低压缩空气冷却法兰和电子元件的温度。  2、泡沫的影响:  出现泡沫也分为许多类型,干湿泡沫可以使雷达反射率可以回来,对测量无影响;反射中性泡沫会吸收和传播的雷达。当介质表面很厚、大,出现应用限制和测量误差,雷达物位计不具有优势,不能在这样的条件下进行测量。  3、探头结疤和频繁故障  针对雷达物位计的这类情况,可以增加探针的安装位置,但情况有时受限制的安装条件下,应该被用于测量水箱泵联锁方式的料位的值。实际操作是:减少0.5米左右的最高料位的设置,当料位达到最大值,停止进料泵或打开进料泵。  4、仪器被淹  主要措施是改变雷达物位计测量波导。开口还是原来的安装波导雷达物位计,比波导排气管约高0.2M。因此,即使从排气管溢出的恶劣条件下泥浆出现,也不会出现被淹没现象,而且避免干扰旋涡搅...
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2019 - 12 - 26
雷达物位计是一种非常常见的物位测量工具,在选型的时候,一定要知道一些常见的参数。比如:  1、测量范围是几米,要求盲区是多少。  2、被测量的介质类型(液体还是固体,具体的名称如:清水、污水、泥浆、汽油、柴油、甲苯、二氧化硫、矿石、煤炭、水泥、黄豆、小麦、玉米、面粉等)。如果是液体:液面是否有蒸汽、雾气、泡沫、波浪、搅拌、漂浮物;如果是固体:是否有粉尘,介质是颗粒状还是粉末状。  3、介质的最低\最高温度,最小\最大压力。  4、介质的腐蚀性,如果是放在罐子内的,需要知道罐子的材质,有没有防腐的衬里。  5、是否需要防腐、防爆,要分体式还是一体式。  6、工作环境:敞口的池子、有盖板的池子、卧罐、立罐、球罐,罐子是否通大气压等。  7、工作电源:是直流24VDC还是交流220VAC。  8、输出信号:4~20mA电流,还是485通信输出,需要继电器输出等
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雷达液位计干扰因素详解

发布日期: 2020-07-08
浏览人气: 217

雷达液位计干扰因素详解

雷达液位计的干扰因素主要包括:


高频头沾染粘附物、障碍物对反射的干扰、短管内的阻抗跃变、天线连接处的阻抗跃变、罐内油气或蒸汽结露影响反射等。


常见的仪表信号干扰源电磁兼容性已成为工业过程测量和控制仪表的一项重要性能指标。


由于测量和控制仪表总是和各类产生电磁干扰的设备工作在一起,因此不可避免地受电磁环境的影响。常见的干扰源主要分外部干扰和内部干扰两大类。 


3.1外部干扰

1)天体和天电的干扰天体干扰是由太阳或其他恒星辐射电磁波所产生的干扰。天电干扰是由雷电、大气的电离作用、火山爆发及地震等自然现象所产生的电磁波和空间电位变化所引起的干扰。


2)机械的干扰机械的干扰是指由于机械的振动或冲击,使控制仪表中的电气元件发生振动、变形,使连接线发生位移,使指针发生抖动、仪表接头松动等。对于机械类的干扰主要是采取减振措施来解决,例如采用减振弹簧、减振软垫、隔板等。


3)热的干扰火电厂热力设备在工作时产生的热量所引起的温度波动和环境温度的变化,都会引起控制仪表的电路元器件参数发生变化,从而影响控制仪表的正常工作。


4)光的干扰在控制仪表中广泛使用着各种半导体元件,这些半导体元件在光的作用下会改变其导电性能,从而影响控制仪表的正常工作。


5)湿度干扰湿度过高会引起绝缘体的绝缘电阻下降,漏电流增加;电介质的介电系数增加,电容量增加;吸潮后骨架膨胀使线圈阻值增加,电感器变化;应变片黏贴后,胶质变软,精度下降等。


6)化学的干扰酸、碱、盐等化学物品以及其他腐蚀性气体,除了具有化学腐蚀性作用将会损坏仪器设备和元器件外,又能与金属导体产生化学电动势,从而影响控制仪表的正常工作。



3.2内部干扰干扰有时也来自仪表内部,如电源变压器、导线、印刷电路、电子元件之间的电感、电容或元器件内部的噪声干扰。


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